Atomic Force Microsopy(AFM)의 이해와 다른 characterization method와의 연계
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작성일 24-04-18 01:49
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SPM 관련 개발 기술로는 LFM(Lateral Force Microscope): 표면의 마찰력을 재는 원자현미경, FMM(Force Modulation Microscope): 시료의 경도(硬度)를 재는 원자현미경, PDM(Phase Detection Microscope) : 시료의 탄성 및 점성등을 재는 원자현미경, MFM(Magnetic Force Microscope): 자기력(磁氣力)을 재는 원자현미경, EFM(Electrostatic Force Microscope): 시료의 전기적 특성을 재는 원자현미경, SCM(Scanning Capacitance Microscope): capacitance를 재는 원자현미경, EC-SPM(Electrochemistry Scanning Probe Microscope): 시료의 전기화학적 성질을 측정하는 원자현미경 등이 있다.
순서
다.
레포트/공학기술
설명
AFM은 PID feedback controller를 사용하고 있는데, 각 controller의 mode에 따른 image의 oscillation 정도 變化(변화)를 확인할 수 있다 즉 over-tuned feedback loop의 경우 발생되는 잔주름 image의 현상을 제어할 수 있으며, sample마다 다른 값을 갖는다. 즉 silica particle의 width에 대한 TEM결과와 비교할 때 10%이내의 오차를 보여서 adsorbed water layer의 effect(영향) 이 적었다.여기서는 지금까지 AFM이 어떤식으로 응용되어 왔는지 살펴보고 AFM의 활용에 대한 발전방안을 알아보고자 한다.[1] 그러나 원천적으로 water vapor에 의한 tip contamination을 막기 위해서는 vacuum에서 작업을…(skip)
SPM 관련 개발 기술로는 LFM(Lateral Force Microscope): 표면의 마찰력을 재는 원자현미경, FMM(Force Modulation Microscope): 시료의 경도(硬度)를 재는 원자현미경, PDM(Phase Detection Microscope) : 시료의 탄성 및 점성등을 재는 원자현미경, MFM(Magnetic Force Microscope): 자기력(磁氣力)을 재는 원자현미경, EFM(Electrostatic Force Microscope): 시료의 전기적 property(특성)을 재는 원자현미경, SCM(Scanning Capacitance Microscope): capacitance를 재는 원자현미경, EC-SPM(Electrochemistry Scanning Probe Microscope): 시료의 전기화학적 성질을 측정(測定) 하는 원자현미경 등이 있다.[4]
상온에서의 humidity의 effect(영향) 으로 인한 capillary force 유발은 일부test(실험) 에서는 그 effect(영향) 이 적은 것으로 나타났다. 이를 해결하기 위해서는 vibration isolation table을 사용하고 주변에는 전자기장 발생 장치를 제거하고 소음저감 설비를 하는게 좋다. , Atomic Force Microsopy(AFM)의 이해와 다른 characterization method와의 연계공학기술레포트 ,
Atomic Force Microsopy(AFM)의 이해와 다른 characterization method와의 연계
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여기서는 지금까지 AFM이 어떤식으로 응용되어 왔는지 살펴보고 AFM의 활용에 대한 발전방법을 알아보고자 한다.[3]
이를 통해서 image의 resolution에 effect(영향) 을 주는 인자는 humidity와 building and acoustic vibration외에 feedback loop의 gain도 작용함을 알 수 있다
Building vibration은 accelerometer로 측정(measurement)하여 G 정도면 양호하며, acoustic vibration은 angstrom 단위로 작업시 tip과 sample에 쉽게 effect(영향) 을 주어 image에 noise를 발생시킨다.
